SIMU為產品和測試工程師提供提供資料分析，快速提升良率及識別量產偏差。
SIMU將標準的測試資料檔案轉為綜合報告，讓使用者能互動式的深入數據進行根本原因的分析。
SIMU的應用包括：
- 產品的測試資料分析比對
- 硬體設備（tester/load board)相關資訊分析
- 測試時間優化
- 產品良率提升及問題原因分析
通常工程師會用SIMU對新開發完成的樣品進行資料分析，一但開始量產後，再利用SIMU進行分析診斷量產的偏差。面對數十億筆數據及需要快速解決問題的需求，快速地進行數據分析及呈現結果是很重要的，也是SIMU所提供的。
- 易於使用-不需要學習複雜的程式語言及培訓可立即獲得良好的生產力
- 多功能-從產品設計到大量生產
- 可擴充性-可依使用者需求彈性客製化報表及不同功能需求
Web Based Architecture
SIMU基於Web based架構設計，提供更靈活、友好及彈性的使用者介面 及用戶體驗，不同平台上的瀏覽器皆可使用，有效降低了培訓成本並提升營運效率，進而確保開發及維護順利進行。SIMU基於我們優秀的演算法及架構體系，在快速呈現大量數據的需求上他非常出色。
Lot Tracking
在環環相扣的半導體產業鏈中，SIMU不只是資料分析系統，亦能追蹤產品在WAT/CP/FT的測試資料，提供完整的產品履歷，使用者能藉由產品履歷及資料分析，達到提升產品品質及改善產品良率的目標。
Wafer Analysis
提供以 Yield / Bin / Parametric 不同面向的 wafer map, 使用者能通過互動式介面依照不同需求, 堆疊特定的 wafer, 快速找出異常原因 , 並提供 wafer by zone 分析方式, 計算不同區域中的良率及 Bin 分佈, 進一步了解產品在不同階段是否出現異常
Shmoo History
透過資料匯入，紀錄及儲存每個設備的Shmoo數據，提供使用者分析及判讀，並顯示細節及圖表以供進一步分析，減少人員誤判的機率；互動式介面，也能彈性化客制各項相關報表，符合使用需求
Variance Detection
針對量產時的不同條件, 找出造成良率 / 產出不足的因素, 快速調整機台 / 設備 / loadboard / probecard 以提升效能，另外依照需求將產品分組或同產品不同批此進行資料分析比對，進行 A/B 測試，找出其中的差異性並針對其進行改善。
